PUMA
Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo     
Musayeva N., Attolini G., Bosi M., Clearjaud B., Jabbarov R., Sebnem Cetin S., Ozcelik S., Memmedli T. Structural al optical characterization of GaInPN structures grown on Si substrate with MOVPE technique (Si üzerine MOVPE tekniği ile büyütülen GaInPN alaşımlarının yapısal ve optik karakterizasyonu). In: YMF - 18 - 18. Condensed Matter Physics Congress, (18. Yoğun Madde Fiziği Kongresi) (Ankara, Turkey, 25 November 2011).
 
 
Abstract
(English)
Structural al optical characterization of GaInPN structures grown on Si substrate with MOVPE technique
Subject epitaxy
diluted nitrides
characterization


Icona documento 1) Download Document PDF


Icona documento Open access Icona documento Restricted Icona documento Private

 


Per ulteriori informazioni, contattare: Librarian http://puma.isti.cnr.it

Valid HTML 4.0 Transitional